3.1.4 Sabit Nokta Analizi
Sabit nokta analizi belirlenmiş iki fotometri noktası arasındaki OD değerini ölçer. İki
fotometre noktası numune ve reaktif arasındaki reaksiyonun başlangıcından sonra ölçülür.
Reaksiyon OD değeri = ODB - ODA
OD
R1 S R2 A B 27
3.1.5 Kalite Kontrol
Günlük denetim doğruluğunu sürdürmek için çeşitli kalite kontrol teknikleri kullanılır.
Bu ekipmanda, en yaygın olarak kullanılan doğruluk kontrol tekniği olan x-R kontrolü,
sistem hataları ve kazayla meydana gelen hataların daha kolay sınıflandırılması için çift
çizim ve önemsiz hataların tespitini engelleyen çok kurallı kalite kontrol özellikleri
bulunmaktadır.
Bu bölümde çift çizim kontrolü ve çok kurallı kontrol açıklanmıştır.
x-R kontrolüne ilişkin ayrıntılı bilgi için, bkz “Günlük Değişim Çizelgesini Kontrol Etme.”
sayfa 6-25.
Çift Çizim Kontrolü
Bir kalite kontrol serumu olarak, normal ve anormal bölümleri bir çift oluşturan bu
serumlar kullanılır.
Aşağıdaki şekilde “Günlük Değişim Çizelgesini Kontrol Etme.” sayfa 6-25 iki boyutlu olarak,
iki numune türüne referans vererek kontrol çizelgesi verilmiştir.
Anormal
bölge
numunesi
+2SD
MEAN
-2SD
-2SD MEAN +2SD Normal bölge
numunesi
3-6 3 Sistem Taslağı AU680 Kullanım Kılavuzu Sürüm 3.01